- SP
Thông tin sản phẩm:
• Máy đo độ dày lớp phủ kỹ thuật số
• Phù hợp để đo độ dày lớp phủ không từ tính.
• Tích hợp giao tiếp dữ liệu RS-232.
• Loại F/N: Kết hợp chức năng của loại F và N, phù hợp đo các loại lớp phủ tương ứng trên nền kim loại.
• Loại F: Đo độ dày lớp phủ không từ tính trên kim loại có từ tính.
• Loại N: Đo độ dày lớp phủ cách điện trên kim loại không từ tính.
• Thiết kế công thái học, thuận tiện khi thao tác.
• Chức năng Offset-Accur cho phép hiệu chỉnh thiết bị chính xác theo dải đo thực tế bằng phương pháp hiệu chuẩn 2 điểm.
• Sau khi hiệu chuẩn 2 điểm, độ chính xác có thể đạt khoảng 1% giá trị đo.
• Có thể lựa chọn đơn vị đo: µm hoặc mil.
• Đi kèm vali đựng chắc chắn.
• Bộ cung cấp hoàn chỉnh gồm: Máy đo độ dày lớp phủ, hướng dẫn sử dụng, các lá chuẩn hiệu chuẩn, tấm chuẩn nền bằng sắt và nhôm
• Dải đo: 0 ~ 1250 µm
• Độ phân giải: 0,1 µm trong dải 0 ~ 99,9 µm; 1 µm khi trên 100 µm
• Đối tượng đo: Thiết bị kết hợp F/N
• Độ chính xác tiêu chuẩn: ±3% giá trị đo hoặc ±2,5 µm
• Độ chính xác với chức năng Offset-Accur: ±1% giá trị đo hoặc ±1 µm
• Bán kính cong nhỏ nhất của bề mặt mẫu – loại F: Bề mặt lồi 1,5 mm; bề mặt lõm 25 mm
• Bán kính cong nhỏ nhất của bề mặt mẫu – loại N: Bề mặt lồi 3 mm; bề mặt lõm 50 mm
• Chiều dày nền tối thiểu: 0,3 mm
• Kích thước (R × S × C): 65 × 28 × 131 mm
• Khối lượng tịnh: Khoảng 81 g
• Nguồn điện: 4 pin AAA 1,5 V
Cung cấp bao gồm:
- Máy chính
- Phụ kiện tiêu chuẩn
- Hướng dẫn sử dụng
CÔNG TY TNHH KHOA HỌC KỸ THUẬT DAIHANLAB
Bản quyền thuộc về CÔNG TY TNHH KHOA HỌC KỸ THUẬT DAIHANLAB | All rights reserved